TOF-SIMS: une révolution dans l’analyse chimique des surfaces

 

Le LTA veut élargir son champ d’analyse chimique des surfaces grâce à l’acquisition de nouveaux équipements dont pourront bénéficier les entreprises et les chercheurs : un système TOF-SIMS et un XPS.

La récente percée technologique dans le système TOF-SIMS permet une détection chimique ultime avec une résolution spatiale d’une centaine de nanomètres sur tout type d’échantillon. Complétée par le XPS, elle devient un véritable atout pour la recherche et le développement de la région.

 

Le LTA vous invite à découvrir cette avancée technologique
mardi 20 juin 2017 à 14h

Grand auditoire de l’école de physique
24, quai Ernest-Ansermet – Genève

 

Programme

14.00 Accueil

14.10 Présentation du projet
Professeur Christoph Renner – LTA – UNIGE

14.15 Introduction aux nano-sims
Dr Gregory L. Fisher – Physical Electronics, USA
conférence en anglais

15.00 Questions

15.30  Verrée et discussions

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Inscription nécessaire avant le 15 juin 2017 en remplissant le formulaire ci-contre.

 

 

               

Crédits | Réalisation Sur Mesure concept