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Analyse physico-chimique des matériaux et couches minces

savf-004

Description
Nous mettons en œuvre une grande variété de techniques de la diffraction des rayons X, spectroscopie de masse, à la spectroscopie Raman, RMN, EDX ou XPS, pour analyser la microstructure et la composition chimique d’un matériau sous forme massive ou en film mince. Il s’agit d’un accès privilégié aux grands instruments (sources de neutrons ou sources synchrotron) permettant de repousser les limites des techniques conventionnelles.
               

Crédits | Réalisation Sur Mesure concept